a。 表面粗度(Surface Rough顯微鏡ness)
在某一定長度內(一般在儀器上都已經設置好)計算其表面高點與低點之算術平均值來表示。

b。 斷面曲線與粗糙度曲線
通常加工是由一連續不規則高度、間隔和傾斜面形成的，假若使用電動式檢出器偵測器測量此加工表面粗放大鏡糙度時，為消除所謂波紋成份望遠鏡，通常是使用電子高頻濾波器﹝ treble-filter﹞消除斷面曲面長之波紋成份(只截取短波長部份)。因此，觸針前端所繪制的波紋曲線(稱為斷天文望遠鏡面曲線)與通過放大器或濾波器而繪制之曲線是不相同的。後者是代表粗糙度的曲線，故稱為粗糙度曲線。而此粗糙度曲線的形狀常因截取值的選取方法有不金相顯微鏡同形狀。
簡言之，所謂粗糙度曲線是經過波長成份篩選後的波紋形狀。但實際上，真正表面的斷面形狀是由無限個曲率半徑很小的檢出器在表面緩慢移動之上下移動波形。但是若再進一步嚴格的說，檢出器移動的實際形狀並非是表面凹凸不平的斷面圖形，特別是測量具有些微凹凸不平的測量物時，差異更為顯著。由於，理想斷面形狀是無法測量的，因此必須依照一定的基准方法，由檢出器的上下移動繪制斷面曲線才是一種比較可行的方法。

c。 基准長度
由斷面曲線求最大高度或者十測量點平均粗糙度，是先截取斷面曲線上某一固定長度，此截取的長度就稱為基准長度。通常由具有相同節距之規則曲折表面選取基准長度是不會影響粗糙度測量值，但是對經過研磨等不規則波紋之表面，其標准長度越長則測得之表面粗糙度的測量值也越大。

 
內反射熒光顯微術（Total intern金相顯微鏡al reflection fluorescence microscopy，TIRFM）

利用全內反射產生的消逝波激發樣品，使樣品表面數百納米厚的薄層內的熒光團受到激發，再用高靈敏度和高時間顯微鏡分辨率的攝像機CCD來捕捉熒光並用計算機進行顯像，從而實現對生物樣品觀測的一種新生技術。由於消逝波特點及CCD的優勢使全內反射熒光顯微鏡具有高信噪比和高時間分辨率，因此它在對單分子的動態觀測具有很高的應用價值。
1。棱鏡型全內反射熒光顯微鏡

棱鏡型全內反射熒光顯微鏡就是利用激光經過棱鏡並產生放大鏡全內反望遠鏡射，其消逝波照射已被熒光標記的生物樣品，其激發光從另一側進入目鏡，並被CCD相機捕捉，
2。物鏡型全內反射顯微鏡

天文望遠鏡在物鏡型全內反射顯微術中，顯微鏡的物鏡即作為收集樣品熒光信號的接收器，同時又作為發生全內反射的光學器件。

 


焦深（Depth of focus）
天文望遠鏡
焦深為焦點深度的簡稱，即在使用顯微鏡時，當焦點對准某一物體時，不僅位於該點平面顯微鏡上的各點都可以看清楚，而且在此平面的上下一定厚度內，也能看得清楚，這個清楚部分的厚度就是焦深。焦深大，可以看到被檢物體的全層，而焦深小，則放大鏡只能看到被檢物體的一薄層，焦深與其他技術參數有以下關系：

（1） 焦深與總放大倍數及物鏡的數值孔望遠鏡徑成反比。

（2）焦深大，分辨率降低。由於低倍物鏡的景深較大，所金相顯微鏡以在低倍物鏡照相時造成困難。

 



球差(Spherical aberr望遠鏡ation)

球差是軸上點的單色相差，是由於透鏡的球形表面造成的。球差造成的結果：一個點成像後，不在是個亮點，而是一個中間亮邊緣逐漸模糊的亮斑，從而影響成像質量。球差的矯正常利用透鏡組合來消除，由於凸、凹透鏡的球差是相反的，可選配不同材料的凸凹透鏡膠合起來給予消除。舊型號顯微鏡，物鏡的球差沒有完全矯正，應與相應的補償目鏡配合，才能達到糾正效果。一般新型顯微鏡的球差完全由物鏡消除。





顯微鏡觀察時的視場直徑是什麼概念？



顯微鏡觀察顯微鏡時，所看到的明亮的圓形範圍叫視場，它的大小放大鏡是由目鏡裡的視場光闌決定的。視場直徑也稱視天文望遠鏡場寬度，是指在顯微鏡下看到的圓形視場內所能容納被檢物體的實際範圍。視場直徑愈大，愈便於觀察。什麼是明視野觀察？顯微鏡明視場觀察

有公式：

F=FN/β

式中F: 視場直金相顯微鏡徑，FN：視場數（Field Number，簡寫為FN，標刻在目鏡的鏡筒外側），β:物鏡放大率。由公式可看出：

（1）視場直徑與視場數成正比；

（2）增大物鏡的倍數，則視場直徑減小。

因此，若在低倍鏡下可以看到被檢物體的全貌，而換成高倍物鏡，就只能看到被檢物體的很小一部份。

 
視角愈大，像也愈大，愈能分辨物的細節。移近物放大鏡體可顯微鏡增大視角，但受到眼睛調焦能力的限制。使用放大鏡，令其緊靠眼睛，並把物放在它的焦點以內，成一正立虛像。放大鏡的作用是放大視角。歷望遠鏡史上，據說放大鏡的應用是由13世紀英國的一位主教格羅斯泰斯特提出的天文望遠鏡。
早在一千金相顯微鏡多年前，人們已把透明的水晶或透明的寶石磨成“透鏡”，這些透鏡可放大影像。也成為凸透鏡。